ThickKAIM-LT-100型厚度测量仪是我司针对高精度光学镜片厚度测量所推出的一款测量设备。对于特别高精度的光学应用，如生物DNA测序，光刻等，元件的中心厚度控制是非常重要的环节，传统的测高计等接触式测量很容易对镜片造成划伤，如何高精度非接触测量显得尤为重要。该设备完美的解决了这一诉求，测试操作简单，可以适应不同的产品的高精度非接触中心厚度测试。